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植物冠层分析仪

植物冠层分析仪

简要描述:植物冠层分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律,在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下,采用半理论半经验的公式,通过冠层孔隙率的测定,计算出冠层结构参数。采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法。

产品型号: M402178

所属分类:冠层分析仪

更新时间:2021-05-27

厂商性质:生产厂家

详情介绍

 植物冠层分析仪广泛适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、 植物群体对比与发展的研究与教学中农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析。能测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数,叶面积指数(LAI)和叶片平均倾角(MTA)等。

原理和方法
 植物冠层分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律,在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下,采用半理论半经验的公式,通过冠层孔隙率的测定,计算出冠层结构参数。采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法。

功能特点
1.非破坏性地测定冠层结构
2.可以测量冠层内外的光合有效辐射(PAR)
3.手持式万向接头自动水平调整探头,
4.随身携带的笔记本计算机可以帮助你正确选点取样,即时决定图像的取舍
5.由计算机电池提供电源很轻便、便于观测,尤其适合完成野外繁重的观测任务
6. 图像分析软件可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区,方位角可分10区)。对不同方向的冠层进行区域性分析时,可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择,可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件
7.通过USB接口直接将测点图像显示在计算机上,可以在野外即时观察图像,选择合理的测点,将图像存贮。
8.半球图象上可以设计任何地点、任何时间的太阳视运动轨迹,以及冠层内任意时刻的受光状况。

技术参数
1.镜头角度:150°
2.分辨率:768×494pix
3.测量范围:天顶角由0°~75°(150°鱼眼镜头)可分割成十个区域,方位角360°亦可分割成十个区域。
4.PAR感应范围:感应光谱400~700nm。   测量范围0~2700μmol/m2•s
5.分析软件:专业ECA-GC02软件。
6.显示和内存:7英寸笔记本,128内存以上。
7.电 池:电脑电池。
8.传输接口:USB
9.工作温度:0~55℃
10.重量:1.5kg



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